Energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) is een routinematig toegepaste analytische techniek voor de kwalitatieve en kwantitatieve bepaling van de elementen 11Na tot en met 92U. De kracht van deze techniek is het niet destructief, snel en eenvoudig meten op laag ppm niveau. Dit geld voor zowel vaste stoffen, vloeistoffen en poedermonsters

Gepolariseerde excitatie voor lage detectie limieten.

Met een speciale houder is
meting op
part-per –billion (ppB)
niveau mogelijk.

Geavanceerd optisch ontwerp.

In tegenstelling tot conventionele EDXRF apparatuur is de Rigaku NEX CG voorzien van zg. “Cartesian Geometry” (CG).
Dit is speciaal geoptimaliseerde optiek die in combinatie met indirecte excitatie een (enorm) aantoonbaar beter detectieniveau oplevert !

Voornaamste eigenschappen:
* Analyseert niet destructief 11Na to 92U
* Geschikt voor Vaste stoffen, Vloeistoffen, Poeders
* Gepolariseerde excitatie voor lagere detectie grenzen.
* RPF vermindert kosten van standaarden en voorziet in betrouwbare resultaten.
* PPB detectie niveau met gebruik van  Ultracarry

Minder standaardiseren bespaart tijd en geld.

De NEXCG is voorzien van een buitengewoon krachtig software pakket (RPF-SQX) met  Rigaku Profile Fitting.
Deze technologie maakt het mogelijk om direct een semi kwantitatieve bepaling uit te voeren voor vrijwel alle soorten matrices zonder gebruik te maken van standaarden. Dit is met name interessant bij het analyseren van totaal onbekend materiaal. Standaarden zijn immers kostbaar en soms ook moeilijk te verkrijgen.  Met de NEXCG  bespaart u in deze kosten en uiteraard ook in het extra calibratie werk.

Het analytisch vermogen, flexibiliteit en eenvoud in gebruik, zijn de eigenschappen waardoor de NEX CG  zeer geschikt is voor zowel research en de industriële proces controle.

De Rigaku NEX QC voor snelle kwalitatieve en kwantitatieve analyse is op de Pittcon 2011 met veel belangstelling ontvangen. Het betreft dan ook een fraai compact XRF systeem om een grote diversiteit aan monsters te analyseren.

Voornaamste eigenschappen.
* Analyseert 11Na tot 92U niet-destructief
* Geschikt voor vaste stof,vloeistof, legeringen poeders enz.
* 50kV X-ray tube voor groot elementbereik.
* Semiconductor detector voor hoge kwaliteit meetgegevens.
* Modern bedieningsgemak met “smartphone style icon "
* Voorzien ingebouwde printer.
* Uitstekende prijs –prestatie verhouding.

Optioneel: Fundamentele parameter fitting voor het analyseren zonder standaarden!
NEX QC is ontwikkeld voor snelle routine analyse voor kwaliteitscontrole.
De nieuwe XRF is uitgerust met een eenvoudig te bedienen "icon " touch screen en evt. monster wisselaar , draaicup. Een helium purge is verkrijgbaar voor de analyse van lichtere elementen.